Contenuto del servizio
IC, in quanto importante componente automobilistico, è un'area chiave di attenzione continua per il comitato AEC. I test di affidabilità di AEC-Q100 su IC possono essere suddivisi in affidabilità accelerata da stress ambientale, affidabilità accelerata da simulazione di vita, affidabilità del packaging, affidabilità del processo wafer, verifica dei parametri elettrici, screening dei difetti, test di integrità del packaging e le condizioni di test devono essere selezionate in base al livello di temperatura che il dispositivo può sopportare.
La verifica diTest di certificazione AEC-Q100richiede la collaborazione dei fornitori di wafer e delle fabbriche di confezionamento e collaudo, che testano ulteriormente la capacità di controllo complessiva dei test di certificazione. RGT valuterà i CI dei clienti in base ai loro requisiti e standard e fornirà un piano di certificazione ragionevole per assistere nella certificazione di affidabilità dei CI.
Ciclo di prova
Circa 3-4 mesi.
Elementi di prova
|
S/N |
Elemento di prova |
Abbreviazione |
Numero campione/lotto |
Numero di lotto |
Metodo di prova |
|
Test di stress ambientale accelerato del gruppo A |
|||||
|
A1 |
Precondizionamento |
Per PC |
77 |
3 |
J-StD-020, |
|
JESD22-A113 |
|||||
|
A2 |
Temperatura-Umidità-Bias |
THB |
77 |
3 |
JESD22-A101 |
|
HAST distorto |
AVERE |
JESD22-A110 |
|||
|
A3 |
Autoclave |
Corrente alternata |
77 |
3 |
JESD22-A102 |
|
HAST imparziale |
UHST |
JESD22-A118 |
|||
|
Temperatura-Umidità (senza distorsione) |
IL |
JESD22-A101 |
|||
|
A4 |
Cicli di temperatura |
TC |
77 |
3 |
JESD22-A104,Appendice 3 |
|
A5 |
Potenza Temperatura Ciclismo |
PTC |
45 |
1 |
JESD22-A105 |
|
A6 |
Durata di conservazione ad alta temperatura |
HSTL |
45 |
1 |
JESD22-A103 |
|
Gruppo B Test di simulazione di vita accelerata |
|||||
|
B1 |
Durata operativa ad alta temperatura |
HTOL |
77 |
3 |
JESD22-A108 |
|
B2 |
Tasso di fallimento precoce della vita |
ELFR |
800 |
3 |
AEC-Q100-008 |
|
B3 |
Resistenza NVM, conservazione dei dati e vita operativa |
EDR |
77 |
3 |
AEC-Q100-005 |
|
Test di integrità dell'incapsulamento del gruppo C |
|||||
|
C1 |
Taglio a filo |
Scambio di informazioni |
30 fili di collegamento in almeno 5 dispositivi |
AEC-Q100-001,AEC-Q003 |
|
|
C2 |
Trazione del legame del filo |
BP-WB |
Metodo MIL-STD883 2011, |
||
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C3 |
Saldabilità |
Deviazione standard |
15 |
1 |
JESD22-B102 o J-STD-002D |
|
C4 |
Dimensioni fisiche |
Dipartimento di Polizia |
10 |
3 |
Certificato JESD B100, Certificato JESD B108 |
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C5 |
Taglio della sfera di saldatura |
SBS |
Almeno 5 palline di bonding per 10 dispositivi |
3 |
AEC-Q100-010, |
|
AEC-Q003 |
|||||
|
C6 |
Integrità del piombo |
LUI |
Almeno 10 lead per 5 dispositivi |
1 |
JESD22-B105 |
|
Test di affidabilità della produzione di wafer del Gruppo D |
|||||
|
D1 |
Elettromigrazione |
EM |
/ |
/ |
/ |
|
D2 |
Guasto dielettrico dipendente dal tempo |
TDDB |
/ |
/ |
/ |
|
D3 |
Iniezione di vettore caldo |
IC ad alta intensità |
/ |
/ |
/ |
|
D4 |
Instabilità della temperatura di polarizzazione negativa |
NBTI |
/ |
/ |
/ |
|
D5 |
Migrazione da stress |
SM |
/ |
/ |
/ |
|
Test di verifica elettrica del gruppo E |
|||||
|
E1 |
Funzione/Parametro pre e post stress |
TEST |
Tutti i campioni necessari per le prove di stress nei test elettrici |
Specifiche del fornitore o dell'utente |
|
|
E2 |
Modello del corpo umano con scarica elettrostatica |
L'HBM |
Specifiche di prova di riferimento |
1 |
AEC-Q100-002 |
|
E3 |
Modello di dispositivo caricato con scarica elettrostatica |
CDM |
Specifiche di prova di riferimento |
1 |
AEC-Q100-011 |
|
E4 |
Aggancio |
LU |
6 |
1 |
AEC-Q100-004 |
|
E5 |
Distribuzioni Elettriche |
ED |
30 |
3 |
Domanda AEC100-009 |
|
AEC Q003 |
|||||
|
E6 |
Classificazione dei guasti |
FG |
- |
- |
AEC-Q100-007 |
|
E7 |
Caratterizzazione |
CARBONE |
- |
- |
AEC-Q003 |
|
E9 |
Compatibilità elettromagnetica |
Compatibilità elettromagnetica |
1 |
1 |
norma SAE J1752/3- |
|
E10 |
Caratterizzazione del cortocircuito |
SC |
10 |
3 |
AEC-Q100-012 |
|
E11 |
Tasso di errore soft |
SERBATOIO |
3 |
1 |
JEDEC |
|
JESD89-1 |
|||||
|
JESD89-2 o JESD89-3 |
|||||
|
E12 |
Senza Piombo (Pb) |
LF |
Specifiche di prova di riferimento |
Specifiche di prova di riferimento |
AEC-Q005 |
|
Test di screening dei difetti del gruppo F |
|||||
|
F1 |
Test di media del processo |
PATTUGLIA |
/ |
/ |
AEC-Q001 |
|
F2 |
Analisi statistica del contenitore/rendimento |
SBA |
/ |
/ |
AEC-Q002 |
|
Test di integrità della sigillatura e dell'imballaggio del Gruppo G |
|||||
|
G1 |
Shock meccanico |
SM |
15 |
1 |
JESD22-B104 |
|
G2 |
Vibrazione a frequenza variabile |
VFV |
15 |
1 |
JESD22-B103 |
|
G3 |
Accelerazione costante |
La Cina |
15 |
1 |
MIL-STD883 Metodo 2001 |
|
G4 |
Perdita Grossolana/Fine |
GFL |
15 |
1 |
MIL-STD883 Metodo 1014 |
|
G5 |
Consegna del pacco |
GOCCIOLARE |
5 |
1 |
/ |
|
G6 |
Coppia del coperchio |
tenente |
5 |
1 |
MIL-STD883 Metodo 2024 |
|
G7 |
Taglio a matrice |
S.S. |
5 |
1 |
Metodo MIL-STD883 2019 |
|
G8 |
Vapore acqueo interno |
IWV |
5 |
1 |
MIL-STD883 Metodo 1018 |
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