Imaging e analisi TEM

Imaging e analisi TEM
Dettagli:
La microscopia elettronica a trasmissione (TEM) è diventata uno strumento analitico indispensabile nel campo dei materiali e dei semiconduttori. È uno strumento ottico elettronico che utilizza un fascio di elettroni ad alta-energia come sorgente di illuminazione e focalizza gli elettroni (ovvero, gli elettroni trasmessi) che passano attraverso un campione (di circa 10-150 nm di spessore) attraverso lenti elettromagnetiche per formare un'immagine. Combinando più tecniche TEM, è possibile ottenere simultaneamente informazioni sulla morfologia, struttura cristallina e composizione chimica di un campione. La risoluzione TEM può raggiungere 0,12 nm, mentre la risoluzione STEM può raggiungere 0,16 nm.
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Descrizione
Parametri tecnici

contenuto del servizio


TEM (immagini-in campo chiaro, immagini-in campo scuro-fuori asse, immagini in campo-scuro centrale, immagini ad alta-risoluzione, immagini in campo-scuro a fascio debole; STEM (immagini HAADF, immagini DF, immagini BF, spettri energetici EDS, immagini iDPC); diffrazione (diffrazione selettiva, diffrazione di fasci convergenti-, diffrazione di nanofasci)

 

grado di servizio


Settori-correlati ai chip (fabbriche di wafer, produttori di apparecchiature per semiconduttori, società di progettazione di chip, ecc.); Settori legati ai materiali-(università, istituti di ricerca e imprese di ricerca e sviluppo sui materiali).

 

Ciclo di prova


Tempo di elaborazione tipico: 5-7 giorni lavorativi.

 

Sfondo del servizio


Con l'intensificarsi dei blocchi tecnologici all'estero, le imprese high-tecnologiche nazionali stanno ponendo maggiore enfasi sulle capacità indipendenti di ricerca e sviluppo di chip, il che ha alimentato un boom della produzione nazionale di apparecchiature per semiconduttori. Poiché i processi di produzione dei chip continuano a ridursi, lo sviluppo di chip e apparecchiature per semiconduttori si basa sempre più su strumenti analitici microscopici come TEM. La microscopia elettronica a trasmissione (TEM) svolge un ruolo insostituibile nella ricerca e nello sviluppo dei materiali. Fornisce informazioni strutturali microscopiche critiche-tra cui strutture cristalline, difetti, composizioni degli elementi e concentrazioni-che aiutano nell'analisi delle proprietà e del comportamento dei materiali. Anche la tecnica

facilita gli studi sulle transizioni di fase e sui processi di diffusione, offrendo preziosi spunti per la progettazione e l'ottimizzazione dei materiali.

 

i nostri vantaggi


Guangdian Metrology è specializzata nella tecnologia di test di analisi TEM e vanta un team di esperti-leader del settore e apparecchiature di analisi TEM avanzate (Talos F200X G2). Forniamo soluzioni di test di analisi TEM personalizzate su misura per le esigenze di ricerca e sviluppo di vari clienti. La nostra azienda possiede capacità di analisi FIB-TEM per processi avanzati fino a 7 nm e inferiori.

 

condivisione dei casi

 

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Etichetta sexy: imaging e analisi tem, fornitore di servizi di imaging e analisi tem in Cina

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